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台灣中油股份有限公司煉製研究所

115S120

桌上型超輕元素微區 X 光掃描分析系統

01

2026/09/08

2026/09/14 00:00

預算金額不公開

詳說明「桌上型超輕元素微區 X 光掃描分析系統」設備規範：1. 分析儀器主機須具備：(1) 桌上型超輕元素微區 X 光掃描分析系統（Micro-XRF） (2) 元素偵測範圍：碳(C6)-鋂(Am95)。(3) 測量環境：大氣或真空系統。(4) X 光射線源：銠(Rh)靶 X 射線管。(5) X 射線光學系統：須採用多毛細管 X 光聚焦光學元件。(6) X 光束尺寸：聚焦 X 光束斑尺寸須達 ≤ 20 μm。(7) 濾波器：需具備至少6 個(含)以上，需包含單一與複合材質濾波器。(8) 偵測器：矽漂移偵測器(SDD)，解析度< 140 eV。(9) 樣本室及載台：樣本室須可容納長度至少 100 mm、直徑至少 100 mm 之樣本，樣品載台最大承載重量須達 5 kg 以上。(10) 樣品觀察系統：須具雙同步實況影像監控之可見光相機。2. 原廠量測及分析軟體須具備X光螢光光譜分析、定量分析、微區掃描及元素Mapping功能。3. 自動化礦物／物相匹配資料庫分析軟體須具備自動化礦物辨識、分類及定量分析功能，可將 Micro-XRF 掃描所得之元素光譜及元素分布資料，透過礦物資料庫進行光譜比對與自動匹配，以辨識不同礦物相，並產生礦物種類、含量及空間分布之礦物相圖。